「環境技術」2018年5号 記事情報

掲載年 2018
巻(Vol.) 48
号(No.) 5
287 - 
記事種類 講座
記事タイトル 環境の分析技術・データ解析・モデル化講座+I.環境の分析技術  無機機器分析(2)
著 者 藤川陽子
第1著者ヨミ FUJIKAWA
第1著者所属 京都大学
要 旨 1.はじめに
1.1 今回取り扱う分析方法について
 今回の講座では,水中の陰・陽イオンの分析に適用されるイオンクロマトグラフィ,Bragg の法則に基づき環境中に存在する鉱物等の結晶構造の解析を行うX線回折法(X-Ray Diffraction,略してXRD),微粒子の粒度をレーザー光散乱法により測定する粒度分布測定器,について紹介する.あわせて,紙数の許す範囲で,分子レベルで物質の構造を明らかにするX 線吸収微細構造分析(XAFS,X-ray Absorption Fine Structure)についても述べることとする.ここではXRD については一般的な粉末XRD の装置について紹介し,単結晶用の装置については触れない.上記のうち,イオンクロマトグラフィ,XRD,レーザー光散乱粒度分布計はラボ用の装置として市販されている製品で分析を行うことが多い.ただし,蛋白質等,微弱な回折線を多数発生するような複雑な構造の試料の結晶構造を解明するためのXRD 分析,ならびにXAFS 分析においては,大型放射光施設のビームラインを利用することが一般的である.
キーワード:イオンクロマトグラフィ,結晶構造分析、粒径分析、X線吸収微細構造
特集タイトル
特集のねらい